silicium tracking (ilc) blocs de test en ibm 130 nm

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Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm Rachid SEFRI Journées VLSI LAL Juin 2010 Amine Lazhar 1 Rachid Sefri 1 Thanh Hung Pham² ( LPNHE 1 & IPHC² )

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Page 1: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

Silicium Tracking (ILC)

Blocs de test en IBM 130 nm

Rachid SEFRI Journées VLSI LAL Juin 2010

Amine Lazhar1

Rachid Sefri1

Thanh Hung Pham²

( LPNHE1 & IPHC² )

Page 2: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

SITR _BLOCS

Design intermédiaire avant celui d’un circuit multivoies

Circuit dédié à la lecture des micro-pistes en silicium ( ILC )

CMOS IBM 130 nm ( 1.5 V)

3 amplifier-shaper différents ( CR-RC programmable; 3 bit)

ADC Wilkinson simple rampe ( 8 bits )

Une cellule mémoire avec ses switchs d’écriture et de lecture.

Run en cours via le CERN

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

Page 3: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

Amplifier - Shaper V1

Unipolaire

Amplificateur

Filtrage

Gain : 19.4 mV/MIP

Sh _Time: 600ns – 1us

Bruit @ 1 us : ~ 346 + 19,5 e/pF

Linéarité < 1% ( 15 MIP )

Consommation : 450 uW

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

Page 4: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

Amplifier - Shaper V2

Amplificateur

Différentiel en entrée et unipolaire en sortie

Gain : 20 mV/MIP

Sh _Time: 550ns – 1us

Bruit @ 1 us : ~ 189 + 18,9 e/pF

Linéarité < 1% ( 15 MIP )

Consommation : 334 uW

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

Page 5: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

Amplifier - Shaper V3

CMFB

Gain_boost

DifférentielGain : 20 mV/MIP

Sh _Time: 700 ns – 1 us

Bruit @ 1 us : ~ 698 + 17.7 e/pF

Linéarité < 1% ( 15 MIP)

Consommation : 540 uW

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

Page 6: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

ADC

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

Générateur de rampe Comparateur

Page 7: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

Simulations - ADC

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

Page 8: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

La cellule mémoire

1 pF

SWITCHCAP - CELL

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

Page 9: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

Layout

Rachid SEFRI @ LPNHE Journées VLSI LAL Juin 2010

2 X 2 mm²

68 Pads

Page 10: Silicium Tracking (ILC) Blocs de test en IBM 130 nm

Fin

Merci pour votre attention

Rachid SEFRI Journées VLSI LAL Juin 2010

Merci à :

Frédéric Morel ( IPHC )

Grégory Bertolone ( IPHC )

Christian Illinger ( IPHC )

Edouard Bechetoille ( IPN Lyon )

Laurent Royer ( LPC Clermont)