Instituto de Metalurgia M.C. Claudia Guadalupe Elas Alfaro

1ra. Lente Electromagntica

JEM 1000 CXJEM 4000EX

JEM 2000FX

Modelo JEM 1230Resolucin 0.2 nmVoltaje de aceleracin 60 120 KVMagnificacin:Modo MAG:Modo Low MAG:X1000 600,000X50 1000Long. De la Cmara (DRX)15-300 cmLentes condensadorasTamaos de spot2 5Pieza polarHBP12MuestraInclinacin del ngulo (eje X)170Mov. de la muestraDireccin XDireccin YDireccin Z2.0 mm2.0 mm0.5 mm

TEMAS DE EXPOSICION DEL MET Y SUS PARTESSistema de lentesLentes condensadoras Lentes objetivasLentes intermedias Lentes proyectoras Sistema de iluminacin Can de electrones, Tipos de filamentos Modos de trabajoImagen de campo claroImagen campo obscuroPatrones de difraccin Preparacin de muestrasTcnicas empleadas para Preparacin de muestras.

Cuales son las partes principales de un METCan de electrones, que emite los electrones que chocan contra el espcimen, creando una imagen aumentada.

Lentes magnticas para crear campos que dirigen y enfocan el haz de electrones, ya que las lentes convencionales utilizadas en los microscopios pticos no funcionan con los electrones.

Sistema de vaco es una parte muy importante del microscopio electrnico. Debido a que los electrones pueden ser desviados por las molculas del aire, se debe hacer un vaco casi total en el interior de un microscopio de estas caractersticas.

Placa fotogrfica o pantalla fluorescente (ZnS), que se coloca detrs del objeto a visualizar para registrar la imagen aumentada.

Sistema de registro que muestra la imagen que producen los electrones, que suele ser una computadora.

Componentes del can y saturacin del filamento El can de electrones es la parte ms importante de TEM

Tipos de Filamentos Filamento de WComnmente utilizado- Filamento de LaB6 (menortamao de haz, mayorbrillo, mayor coherencia) Potencial de aceleracin Cilindro Wehnelt y bias:focaliza el haz de electrones

Lentes condensadoras Controlan el tamao del haz en la muestra (spot size) y la convergencia.

Se emplean dos juegos de lentes C1: condensa el haz (controla elmnimo tamao del haz). C3: controla la convergencia del haz en la muestra y el tamao iluminado.

Cmara del espcimen y portamuestras Cmara del espcimen BayonetaRejilla

Lente objetiva El haz de electrones interacciona con la muestra en el plano focalde la lente objetivaInformacin de la muestra.Se obtiene la primera imagen ampliada de la muestra.

Aperturas de las lentes Una apertura es un diafragma el cual limita el ngulo de coleccin de la lente. PERMITE CONTROLAR: La resolucin de la imagen formada por la lente La profundidad de campo La profundidad de enfoque La resolucin angular del patrn de difraccin

Imagen finalLente intermedia: proporciona la imagen ampliada. Puedeenfocarse en la imagen de la lente objetivo o el diagrama de difraccin. Las lentes proyectoras aumentan la imagen (hasta cientos de miles). La imagen final se recoge en una pantalla fluorescente (ZnS). A continuacin puede recogerse en una cmara fotogrfica o sistemas digitales de imgenes

Modos de trabajo Campo claro: Se forma la imagenseleccionando el haztransmitido con la aperturade la lente objetiva.Campo oscuro: Se forma la imagen con unhaz difractado: Moviendo la aperturaobjetivo.

Modos de trabajo Los patrones de difraccin constituyen un mapa de las intensidades transmitidas y difractadas en funcin de la orientacin de las ondas planas constituyentes del haz incidente.

Un patrn de difraccin consta de un arreglo de puntos luminosos. Que cada punto representa un plano cristalino de la red que se esta observando

Estereograma de los patrones de difraccin presentados por una muestra.

Clases de patrones de difraccinPatrn de difraccin de un monocristalPDrea SelectaGrano

Clases de patrones de difraccinrea SelectaGrano 1Grano 2

Grano 1Grano 2Grano 3rea Selecta

PD con 9 GranosPD con una muestra policristalina

Un patrn de difraccin contiene bsicamente esta informacin:

El arreglo espacial de la muestra

2. La informacin estructural

3. En las zonas de interaccin (grueso de la muestra, defectos cristalinos, deformaciones de la red, etc.).

Obtener el tipo de la celda unitaria que presenta

La orientacin del cristal en trminos de los ejes de zona

6. Simetra cristalina, grupo puntual y espacial de la muestra.

Preparacin de muestras Muestras transparentes al haz de electrones discos (F=3 mm) de espesor

Tcnicas para replicas en superficies.Preparacin de polvos.Procedimientos mecnicos(corte, clivaje, martilleo)

Se parte de fragmentos de lamuestra que se depositan en unalmina (carbn amorfo) y se fijan alsoporte (pegadas o presionadas) mtodos descritos

Muestras sobre soportes

Permite caracterizar a los materiales:

Caracterizacin microestructural (limites de grano, maclas, precipitacin, etc.)

Caracterizacin estructural (acomodamiento atmico, dislocaciones, fallas de apilamiento, partculas nanomtricas, etc.)

Caracterizacin de las fases presentes

Caracterizacin qumica Anlisis qumico elemental va espectrmetro de energa dispersa EDS (Oxford, modelo del detector 1215)Informacin que podemos obtener en el TEM