microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

37
L’evoluzione della spettroscopia atomica: i nuovi ICP-OES e microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei materiali. Andrea Carcano Spectroscopy Product Specialist, Agilent Technologies Faenza, 19 Settembre 2014 Page 1 Agilent Confidential DATE

Upload: others

Post on 05-Jan-2022

4 views

Category:

Documents


0 download

TRANSCRIPT

Page 1: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

L’evoluzione della

spettroscopia atomica: i

nuovi ICP-OES e

microwave plasma per la

quantificazione degli

elementi nei materiali.

Andrea Carcano

Spectroscopy Product

Specialist,

Agilent Technologies

Faenza, 19 Settembre 2014

Page 1

Agilent Confidential

DATE

Page 2: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

100

80

60

40

30

20

Co

sto

de

lla s

tru

me

nta

zio

ne (

ke

uro

)

Range di musura

ppb ppm

Atomic portfolio

100% ppq ppt 0.1 %

Agilent Confidential

140

Page 3: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Spettrometro ad emissione atomica al plasma alle

microonde (MP-AES) • Nuova tecnica per l’analisi e la determinazione dei

metalli usando l’emissione atomica

• Sorgente plasma prodotto da microonde

• Plasma composto da azoto: runs on air

• Aumento delle performances confrontate con AA

fiamma

• Alta produttività grazie alla Fast Sequential Atomic

Emission Spectroscopy

• Facile da usare:

• Software molto intuitivo

• Inserimento veloce della torcia

• Costi ridotti di utilizzo:

• Runs on air – elimina la necessità di acetilene ed argon

• Elimina la necessità di utilizzare lampade a catodo cavo

• Massima sicurezza di utilizzo (no gas pericolosi)

DATE Page 3

Agilent Confidential

Page 4: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Perchè lavora in aria?

• Usando azoto si ottiene un plasma molto robusto anche con una torcia convenzionale

• Può essere usata una bombola per l’azoto oppure un generatore

• L’eccitazione magnetica produce un plasma toroidale e una zona centrale per l’introduzione del campione

• Le microonde permettono di ottenere:

– Un plasma robusto, con alte temperature in una torcia convenzionale (circa 5000 °K)

– Una zona centrale dove poter atomizzare il campione

– Creare linee di emissione atomiche con alte intensità

DATE Page 4

Agilent Confidential

Page 5: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

MP-AES spettro di emissione

N2 MP-AES ...

300 nm

Linee di atomizzazione ad alta intensità per il Mo

ICP-OES

MP-AES

DATE Page 5

Agilent Confidential

Page 6: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Page 6 DATE

Sorgente plasma prodotto da microonde

Le linee blu indicano il campo magnetico

Le linee rosse indicano il campo elettrico

Page 7: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Schema dello strumento

1. Emissione fumi acidi

2. Finestra protezione preottica

3. Comparto torcia

4. Pompa peristaltica

5. Bottone spegnimento plasma

6. Power Supply

7. Attacchi elettrici

8. Preottica

9. Plasma (Magnetron)

10. Monocromatore con detector

CCD

11. Controllo esterno del gas

12. Ingresso di aria

13. Connessioni dei gas

DATE Page 7

Agilent Confidential

12

11

1 2

5

3

9

10

7

8

4

6

13

Page 8: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Configurazione Assiale o Radiale?

Page 9

Agilent Confidential

DATE

Assiale Radiale

Vantaggi:

Massima sensibilità (maggior

cammino ottico)

Svantaggi:

Bassa tolleranza alla matrice

Consumo maggiore della

torcia

Vantaggi:

Alta tolleranza alla matrice

(solventi organici)

Basso consumo della torcia

Svantaggi:

Minor sensibilità (minor

cammino ottico)

Page 9: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Page 10

Agilent Confidential

DATE

Assiale Radiale

Vantaggi:

Massima sensibilità

(maggior cammino ottico)

Svantaggi:

Bassa tolleranza alla matrice

Consumo maggiore della

torcia

Vantaggi:

Alta tolleranza alla matrice

(solventi organici)

Basso consumo della torcia

Svantaggi:

Minor sensibilità (minor

cammino ottico)

L’Innovazione nell’ MP 4100 Visione Assiale o Radiale?

Page 10: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Schema ottico

Page 11

Agilent Confidential

DATE

Torcia

Monocromatore

Pre-ottica Detector

Page 11: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Posizionamento veloce della torcia

non necessita di allineamento

Page 12

Agilent Confidential

Page 12: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Performances maggiori

• Naturale sostituto di un AA fiamma

• Plasma robusto per matrici difficili

Minori costi di analisi

• Lavora in aria

• Analisi mutili elementale

• Moderato numero di campioni analizzabili

Analisi più

veloci

&

facile utilizzo

• Misure in fast sequential

• Correzione simultanea del background

• Software di ultima generazione

• Torcia Plug & Play

Maggior sicurezza

del laboratorio

• No gas infiammabili

Benefici per il cliente

Page 13

Agilent Confidential

DATE

Page 13: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Basso costo di esercizio

14

Agilent Confidential

Page 14: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Material science Application

WEEE/RoHS

Compliance

Metals in Polymers

Food Product Labeling

Page 15

Page 15: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Elementi tossici nei giocattoli

secondo la normativa WEEE/RoHs

Applicazioni tipiche nel settore Material Science

Page 16

Page 16: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Materiale di riferimento certificato

EC 681 :

Materiale di riferimento Europeo

Polietilene ERM-EC 681,

dall’Instituto dei materiali e

misure di riferimento (IRMM),

Belgio.

NMIJ 8102a :

Materiale di riferimento

certificato Resina 8102a ABS,

dall’Istituto nazionale di

metrologia del Giappone (NMIJ).

Page 17

Page 17: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Samples

• EC 681

• NMIJ 8102a

Digestione

• H2SO4

• H202

• Diluito a 100 mL

Analisi

• Tramite 4100 MP-AES

Possibilità di precipitazione di PbSO4

1° Metodo di preparazione del campione –

EN1122B

Page 18

Page 18: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

2° Metodo di preparazione del campione –

digesione con HNO3/H202

Samples

• EC 681

• NMIJ 8102a

Digestione

• HNO3

• H202

• Diluito a100 mL

Analisi

• Tramite 4100 MP-AES

Page 19

Page 19: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Parametri strumentali

Parametro Impostazione

Nebulizzatore Concentrico in vetro

Spray chamber Single pass ciclonica in vetro

Tubicini del campione Bianco/bianco

Tubicini dello scarico Blu/blu

Tempo di integrazione 10 s

Repliche 3

Velocità della pompa 12 rpm

Pressione al nebulizzatore 160 – 180 kpa (auto ottimizzata)

Correzione del background Auto

Page 20

Page 20: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

MDL ottenuti usando il 4200 MP-AES

Elemento

Lunghezza

d’onda (nm)

MDL (µg/Kg)

Valore richiesto

EN 71 Part 3

(mg/kg)

Cd 228.802 2 50 - 75

Cr 425.433 1 25 - 60

Pb 368.347 10 90

Page 21

Page 21: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Recuperi ottenuti sui materiali certificati

Cadmio EC 681 NMIJ 8102a

Metodo di

digestione

Misurato

(mg/kg)

Certificato

(mg/kg)

Misurato

(mg/kg)

Certificato

(mg/kg)

EN1122 21.1 ± 0.4 21.7 ± 0.7 10.64 ± 0.08 10.77 ± 0.2

HNO3/H2O2 21.5 ± 0.5 21.7 ± 0.7 10.59 ± 0.13 10.77 ± 0.2

Cromo EC 681 NMIJ 8102a

Metodo di

digestione

Misurato

(mg/kg)

Certificato

(mg/kg)

Misurato

(mg/kg)

Certificato

(mg/kg)

EN1122 18.2 ± 0.4 17.7 ± 0.6 27.99 ± 1.26 27.87 ± 0.35

HNO3/H2O2 17.4 ± 0.2 17.7 ± 0.6 28.05 ± 0.13 27.87 ± 0.35

Piombo EC 681 NMIJ 8102a

Metodo di

digestione

Misurato

(mg/kg)

Certificato

(mg/kg)

Misurato

(mg/kg)

Certificato

(mg/kg)

EN1122 Digest 14.2 ± 0.4 13.8 ± 0.7 111.97 ± 3.72 108.9 ± 0.89

HNO3/H2O2 14.0 ± 0.4 13.8 ± 0.7 109.71 ± 3.60 108.9 ± 0.89

Page 22

Page 22: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

La normativa EN 71 Part 3 (1998) definisce i requisiti minimi nei test

di cessione o rilascio per gli elementi inorganici

• Questi standard di qualità sono adottati anche in molti pèaesi fuori

dalla Comunità Europea

• Concentrazione massima ammissibile come rilascio dai materiali

dei giocattoli in mg/kg secondo la normativa EN 71 Part 3

Requisiti europei EN71 Part 3

Page 23

Page 23: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Agilent 5100 ICP-OES

24

Agilent Confidential

September 18, 2014

Page 24: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Agilent 5100 ICP-OES portfolio

September 18, 2014

• Synchronous Vertical Dual View SVDV*

• Vertical Dual View VDV

• Radial View RV

*Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View with unique Dichroic Spectral Combiner

technology

• 3 differenti configurazioni

Page 25: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Come lavora un tradizionale ICP-OES Dual View ?

26

September 18, 2014

Specchio M

rimuovibile che

permette la visione

radiale (non

simultaneamente)

M

Al detector

Agilent Confidential

Page 26: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

5100 SVDV lettura in assiale (DV)

•Lettura solo delle lunghezze d’onda assiali

27 September 18, 2014

Luce assiale riflessa

nel policromatore

Luce radiale

riflessa allo

scarico

Specchio

Al Detector

Page 27: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

5100 SVDV lettura in radiale (DV)

•Il foro permette di mandare solo lunghezze d’onda

radiali al policromatore

28 September 18, 2014

Luce assiale che va allo

scarico tramite un foro

Luce radiale

al

policromatore

Foro

To detector

Page 28: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Synchronous Vertical Dual View &

Dichroic Spectral Combiner technology (DSC)

29 September 18, 2014

Luce assiale

proveniente dal plasma

Luce radiale

proveniente

dal plasma

Dichroic

Spectral

Combiner

Al detector

Page 29: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Novità:

SVDV con tecnologia unica DSC

September 18,

2014 30

Specchio

Dichroic

Foro

NOTE:

1. SVDV viene assemblato con lo

specchio dicroico e lo

specchio

2. VDV viene assemblato senza lo

specchio dicroico (2 specchi

solo per bilanciamento)

3. RV non presenta questo

componente

Page 30: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Design compatto

31

Small footprint

Agilent Confidential

Page 31: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Cosa di nuovo: posizionamento della torcia e pre-

ottica…..

• Ottimo allineamento della torcia

• VANTAGGIO: nessuna fase di allineamento della torcia.

• Movimento automatico rotante del DSC

• VANTAGGIO: Facile sviluppo del metodo con il sistema

SVDV

• Le linee di gas

vengono collegate

automaticamente

Page 32: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Posizionamento veloce della torcia

non necessita di allineamento

Page 33

Agilent Confidential

Page 33: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Generatore di Radio Frequenza

• Spire rivestite in oro

• Torcia loader che impedisce ai clienti di danneggiare le bobine

durante il carico

• Nuovo sistema di generazione delle radiofrequenze

September 18,

2014

Agilent Confidential

34

Page 34: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Stabilità a lungo termine

19 ore <1%RSD.

September 18,

2014 35

Page 35: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

4 ore NaCl 25% con standard 1ppm <1.3% RSD in

configurazione assiale

0%

20%

40%

60%

80%

100%

120%

0:00:00 0:30:00 1:00:00 1:30:00 2:00:00 2:30:00 3:00:00 3:30:00 4:00:00

% R

ead

bac

k

Time (h:mm:ss)

Al 167.019 Al 396.152 As 188.980 Ba 455.403 Cd 214.439Co 238.892 Cr 267.716 Cu 327.395 Mn 257.610 Mo 202.032Ni 231.604 Pb 182.143 Pb 220.353 Se 185.457 Se 196.026Sr 407.771 Zn 213.857 +10% Readback -10% Readback

36 September 18, 2014

OneNeb, Double pass glass cyclonic, Blk/Blk & Blu/Blu, AHA, demountable torch

1.8mm injector, 15rpm. (Also tried on 2.4mm injector with same results)

Page 36: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Agilent 5100 ICP-OES

Page 37

USP Webinar

Dec. 08,

2010

Rivelatore raffreddato a -40oC per un basso noise

Reale lettura simultanea di tutti gli analiti

compreso lo standard interno

Ottica termostatata a 35°C per massima

stabilità e veloce start-up

Tutte le lunghezze d’onda analizzate in

una sola lettura

Pochi componenti ottici

• Alta produttività

• Eccellente rapporto segnale/rumore

Page 37: microwave plasma per la quantificazione degli elementi nei

Page 38 Agilent Confidential