in2019

IN2019 : Laboratorio de metrología English version

CIP: 143501 Ingeniería Industrial

Departamento académico que la ofrece: Ingeniería Industrial

C - L - U: 0 - 3 - 4

Programas académicos en los que se imparte: 4 IIS11

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Requisitos: ( Haber cursado MA1020 )

Equivalencias: No tiene.

Intención del curso en el contexto general del plan de estudios:

Curso de nivel intermedio en ingeniería industrial que le proporciona a los estudiantes los conceptos y la práctica sobre las mediciones y los instrumentos de medición en diferentes ambientes Requiere conocimientos previos de variables aleatorias, distribuciones de probabilidad y distribución muestral. Como resultado del aprendizaje el alumno identifica el tipo de instrumento de medición adecuado para llevar a cabo las mediciones que reflejen el desempeño de un proceso. El alumno será capaz de interpretar las mediciones en distintos ambientes. El alumno será capaz de validar si las mediciones son consistentes y los instrumentos son adecuados a la medición.

Objetivo general de la materia:

Al finalizar este curso el alumno será capaz de discriminar entre los diferentes instrumentos de medición, las unidades de medición y su impacto en las mediciones del desempeño de un proceso.

Temas y subtemas del curso:

1. Unidades de medición y mediciones

2. Propiedades de los instrumentos de medición

3. Patrones y estándares de Medición

4. Incertidumbre

5. Análisis del sistema de medición(MSA)

Temas y subtemas del curso


1.1. Introducción a la metrología

1.2. Sistemas de unidades

1.2.1. Magnitudes físicas.

1.2.2. Los sistemas de unidades de las magnitudes físicas (CGS, MKS, MKFS, MKSA)

1.2.3. El Sistema Internacional de Unidades.

1.3. Conceptos básicos (estabilidad, sesgo, linealidad, repetibilidad, reproducibilidad, y resolución.)

1.4. Mediciones eléctricas, mediciones dimensionales, mediciones de flujo, mediciones de temperatura y mediciones de fuerza


2.1. Características de los instrumentos de medición

2.2. Instrumentos de medición comunes para variables (por lo menos: Multímetro, Termómetros, Vernier y Micrómetro)

2.3. Instrumentos de medición comunes para atributos (antena, pasa/no pasa, visual)

2.4. Tolerancias

3. Patrones y estándares de medición

3.1. Tipos de patrones

3.2. Selección de patrones

3.3. Estándares de prueba

3.4. Organismos relacionados con estándares

4. Incertidumbre

4.1. Tipos de incertidumbre

4.2. Elementos para la estimación de incertidumbre

4.3. Fuentes de incertidumbre

5. Análisis del sistema de medición (MSA)

5.1. Confiabilidad de las mediciones

5.2. Atributos de los sistemas de medición

5.3. Estudios de repetibilidad y reproducibilidad (R&R) para variables (método de medias y rangos)

5.4. Estudios de repetibilidad y reproducibilidad (R&R) para atributos

5.5. Calibración

Objetivos específicos de aprendizaje por tema:

Tema 1. Comprender las diferentes unidades de medición

Tema 2. Identificar las propiedades y características de los instrumentos más comunes de medición

Tema 3. Conocer los diferentes patrones y estándares de medición

Tema 4. Entender el concepto de incertidumbre

Tema 5. Conocer los conceptos de confiabilidad de las mediciones

Objetivos específicos de aprendizaje por subtema


1.1 Conocer el concepto de metrología y los elementos que componen un sistema de medición.

1.2 Conocer los sistemas de unidades

1.3 Entender las características requeridas de un sistema de medición: estabilidad, sesgo, linealidad, repetibilidad, reproducibilidad y resolución.

1.4 Comprender los diferentes tipos de medición


2.1 Conocer las características de instrumentos de medición.

2.2. Utilizar instrumentos de medición comunes para variables.

2.3. Utilizar instrumentos de medición comunes para atributos.

2.4 Comprender el concepto de tolerancia de un instrumento de medición.

3. Patrones y estándares de medición

3.1 Conocer los tipos de patrones

3.2 Diferenciar los organismos relacionados con estándares

4. Incertidumbre

4.1 Comprender los tipos de incertidumbre asociados a instrumentos de medición

4.2 Estimar la incertidumbre asociada a instrumentos de medición

4.3 Comprender las fuentes de incertidumbre asociadas a un instrumento de medición

5. Análisis del sistema de medición (MSA)

5.1 Reconocer la importancia de contar con mediciones confiables

5.2 Conocer los elementos que componen un sistema de medición

5.3 Comprender los atributos requeridos en un sistema de medición y su relevancia dentro del proceso de medición

5.4 Elaborar e interpretar estudios de repetibilidad y reproducibilidad para variables aplicando el método de media y rango.

5.5 Elaborar e interpretar estudios de repetibilidad y reproducibilidad para atributos.

5.6 Reconocer la importancia de la calibración en un proceso de medición.

Metodología de enseñanza y actividades de aprendizaje:

Exposición de conceptos por parte del profesor.

Prácticas de laboratorio en equipo, con reporte formal de resultados.

Investigación documental de los alumnos para dar marco teórico a las prácticas realizadas.

El curso contribuye principalmente en las siguientes dos competencias de egreso de la carrera IIS, la cual está asociada a la disciplina del curso

CE2 El alumno diseñará y conducirá experimentos; obtendrá, analizará e interpretará datos apropiados; y generará información relevante para el desarrollo de un producto o proceso

CE8 El alumno reconocerá la importancia de aprender por sí mismo al continuar preparándose y manteniéndose actualizado en los últimos desarrollos de ingeniería industrial

Técnica didáctica sugerida:

Aprendizaje colaborativo

Tiempo estimado de cada tema:

Tema 1 6 horas

Tema 2 12 horas

Tema 3 12 horas

Tema 4 12 horas

Tema 5 6 horas

Total 48 horas

Políticas de evaluación sugerida:

Prácticas de laboratorio 60%

Examen de medio término 20%

Examen final 20%

Bibliografía sugerida:

LIBROS DE TEXTO:

* Bucher Jay L, The metrology handbook, , The measurement Quality Division ASQ, , , , 2004, ,

* Dunn, Patrick F., Measurement and data analysis for engineering and science, , Boston : McGraw-Hill Higher Education, , c2005, , [0072825383 (papel no a´cido)],[0071112308]

Material de apoyo:

Perfil del profesor:

· Áreas en las que se requiere el grado académico (no refiere a nombres de programas):

Licenciatura en Ingeniería Industrial; Licenciatura en Ingeniería de Manufactura; Licenciatura en Ingeniería de Sistemas; Licenciatura en Investigación de Operaciones; Maestría en Ingeniería Industrial; Maestría en Ingeniería de Manufactura; Maestría en Ingeniería de Sistemas; Maestría en Investigación de Operaciones; Doctorado en Ingeniería Industrial; Doctorado en Ingeniería de Manufactura; Doctorado en Ingeniería de Sistemas; Doctorado en Investigación de Operaciones

CIP: 143501, 143601, 142701, 143701

· Experiencia recomendada:

Frases temáticas:

Metrología. Sensibilidad, estabilidad y linealidad de las mediciones. Patrones y estándares de medición.

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