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ICP-AES oppure ICP-OES Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry oppure Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry ICP-MS Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry

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ICP-AES oppure ICP-OES Inductively Coupled Plasma – Atomic Emission Spectrometry

oppure

Inductively Coupled Plasma – Optical Emission Spectrometry

ICP-MS

Inductively Coupled Plasma – Mass Spectrometry

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Il plasma

• Le tecniche ICP-AES e ICP-MS utilizzano un plasma come sorgente di

atomizzazione ed eccitazione

• Il plasma è un gas elettricamente neutro con una certa percentuale di

ionizzazione (~ 5 %). Il sole, i fulmini e l’aurora boreale sono esempi di

plasma in natura

• L’energia che mantiene un plasma analitico deriva da un campo elettrico

o magnetico; essi non “bruciano” il campione. La maggior parte dei

plasma analitici opera con argon o elio, cosa che rende la combustione

impossibile.

• I plasma sono caratterizzati da alta temperatura (tipicamente nel range

600-8000 K) e da alta densità ionica ed elettronica

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Schema di un plasma ICP

• Il plasma ad accoppiamento

induttivo (ICP) è un plasma indotto

da una radiofrequenza nel quale

una spira di induzione (RF coil)

viene utilizzata per produrre un

campo magnetico. La spira è posta

attorno ad una torcia di quarzo

all’interno della quale si genera il

plasma; al suo interno scorre

acqua a scopo di raffreddamento.

La spira è placcata in oro o

argento per fornire la minima

resistenza elettrica alla

radiofrequenza (non si formano

ossidi)

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• Plasma Analizzatore Detector

• a quadrupolo

Schema di funzionamento

• Plasma Monocromatore Detector

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ICP-AES e ICP-MS • Elementi in comune:

• Atomizzazione con il plasma

• Analisi su un flusso continuo di campione

• Risposta dipendente dalla concentrazione e non dalla massa

• Idonea all’interfacciamento con sistemi di separazione

• Differenze:

• Segnale analitico (intensità di emissione nell’ICP-AES, conteggio

degli ioni nell’ICP-MS)

• Orientazione della torcia (verticale o orizzontale nell’ICP-AES,

sempre orizzontale nell’ICP-MS)

• Sensibilità (maggiore per ICP-MS)

• Robustezza (maggiore per ICP-AES)

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Le diverse fasi dell’analisi

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Nebulizzatore pneumatico

• Nel nebulizzatore pneumatico, il

campione viene trascinato

attraverso un tubo capillare per

mezzo di un flusso di gas

nebulizzante (il cosiddetto

effetto Bernoulli). L’aerosol

generato nella camera di

nebulizzazione subisce una

selezione sulla base delle

dimensioni: le gocce più piccole

(~ 1-2 %) sono trasportate al

plasma, mentre quelle più

grosse sono scartate

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Nebulizzatore a ultrasuoni

trasportate al plasma; la frazione che riesce a raggiungere il plasma,

e quindi a dare un segnale analitico, è circa di un ordine di

grandezza maggiore rispetto al nebulizzatore pneumatico, con

grande guadagno di sensibilità

• In questo sistema un

cristallo piezoelettrico di

quarzo vibra a frequenze

ultrasoniche (50 kHz-4

MHZ) mentre il campione

viene pompato verso il

cristallo da un tubo di

plastica

• Le vibrazioni del cristallo

“spaccano” le gocce di

campione in particelle più

piccole, che vengono

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Introduzione del campione II

• Il campione è introdotto

come soluzione

• Man mano che il campione è

introdotto nel plasma, quattro

processi si succedono

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Schema a blocchi ICP-OES • Un tipico spettrometro ICP-AES è composto dalle seguenti parti:

• Sistema di

introduzione del

campione

• Torcia ICP e riserva di

gas

• Generatore di

radiofrequenze

• Spettrometro ottico

• Rivelatori e sistema

elettronico associato

(convertitore)

• Sistema di controllo computerizzato e acquisizione dati

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Elimina la Zona delle Emissioni Molecolari

Cooled Cone Interface

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Torcia

Rivelatore

Prisma Reticolo

Policromatore

termostatato a + 35 °C

Simultaneo : Vista MPX

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Echellogramma

Da 175 nm a 785 nm = 610.000 picchi ???

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• Scienze Naturali

– Sangue, urina

– Composti farmaceutici

– Tessuti, alimenti,

agricoltura

• Scienze biologiche

– Organismi animali

– Organismi vegetali

• Studi di speciazione

– Cr(III)/Cr(VI)

– Composti organometallici

Applicazioni dell’ICP-AES

• Ambientale

– Acqua potabile

– Terreni, scarichi

• Metalli, Materiali e Reagenti

– Leghe per alte T

– Metalli ad alta purezza

– Scorie di produzione

• Scienze della Terra

– Rocce ignee

– Climatologia

– Sedimenti, acqua di mare

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Elementi determinabili

• Ca, Mg, Sr, Ba: ottima sensibilità, no interferenze spettrali

• Ti, V, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd: buona sensibilità, no interferenze

spettrali sulle righe analitiche

• Cr: buona sensibilità, interferenze pesanti sulle righe analitiche

• B, Si: sensibilità buona, no interferenze spettrali, contaminazione

dalla torcia

• Li, K, Na, Rb: sensibilità discreta, alcune interferenze spettrali sulle

righe analitiche

• Hg, Pb, As: sensibilità bassa, alcune interferenze spettrali sulle

righe analitiche

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Schema a blocchi ICP-MS

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La torcia ICP

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Skimmer

Cone

Plasma Ion source

Interface sampling

Ionic

Optic focalisation

Mass Analyser separation of ions as function of m/z

Quadrupole

+

Plasma

Torch

Sampler cone

Ion optic

vacuum

ICP-MS : Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry

Detectors quantification

CCD

Detector

Grating / prism separation of ions

as function of l

Plasma Mirrors Focalisation

of photons

Pre-Optic

ICP-OES : Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectroscopy

10-6 - 10-7 Torr 760 Torr 1- 2 Torr 10-4 Torr

Sample

Introduction

System

Sample

Introduction

System

Detector

RF Coil

Different Components in ICP-MS

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Ion Flow Dynamics

Interface Ion Optics

Light Masses

Mid Masses

High Masses

Sampler

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- Beam Expansion behind Skimmer cone

- Space Charge problems

Photon Stop

- Focus ions at Mass Analyzer Entrance

- Stop photons from reaching the detetor

Ion Optics for ICP-MS

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Campionamento e focalizzazione degli ioni

II

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Stadi critici in un ICP-MS

• Interfaccia tra il plasma (opera a pressione ambiente) e lo

spettrometro di massa (necessita di alto vuoto)

• Introduzione del campione (deve essere ottimizzata la resa in ioni

elementari da parte del plasma e deve essere minimizzata la

formazione di ossidi che possono occludere parzialmente l’orifizio

del cono di campionamento)

• Sistema di trasferimento degli ioni nello spettrometro MS (deve

fornire all’analizzatore un fascio ben collimato di ioni elementari

per permettere un’adeguata risoluzione di massa allo spettrometro)

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MS a quadrupolo

• La separazione dei

picchi o risoluzione

è proporzionale alla

lunghezza delle

barre

• La risoluzione è

normalmente 1

unità u.m.a.

• Un buon sistema di vuoto è necessario per evitare il peak

broadening

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Rivelazione degli ioni

• La rivelazione degli ioni è eseguita da un elettromoltiplicatore a

dinodi discreti, che, per impatto di uno ione, genera una catena di

elettroni in numero crescente, che possono essere rivelati come

un impulso elettrico

• Esso misura il numero di ioni che arrivano al detector, che è

proporzionale alla concentrazione di quell’isotopo nella soluzione

originaria

• Se però il campione è molto concentrato, il rivelatore che misura

gli impulsi non è sufficientemente veloce per misurare tutti gli ioni

che impattano

• Il detector opera quindi in modalità pulse counting (conteggio di

ioni) per le basse concentrazioni e analogica (corrente ionica) per

le alte concentrazioni)

• In una singola acquisizione vengono perciò misurati elementi

maggiori, minori e in tracce

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Spettro di massa con ICP-MS

•Lo spettro di massa è semplice in quanto costituito da ioni M+

primari; sono possibili specie poliatomiche

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Tipi di interferenze

• Spettrali: si hanno in presenza di specie poliatomiche e isobare

aventi massa simili a quella dell’analita (58Ni su 58Fe, 40Ar16O su 56Fe, 40Ar-Ar su 80Se) equazioni di correzione, scelta di

isotopi alternativi

• Acidi: alcuni acidi come HCl, HClO4, H3PO4 e H2SO4 causano

interferenze poliatomiche insieme ad Ar+, O+ e H+ (35Cl40Ar su 75As, 35Cl16O su 51V) uso di HNO3

• Ioni a doppia carica: causano interferenza spettrale su ioni aventi

metà m/z (138Ba2+ su 69Ga+, 208Pb2+ su 104Ru+) ottimizzazione

del sistema per ridurre gli ioni a doppia carica

• Effetti matrice: analoghi all’ICP-AES matrix matching

• Effetti di ionizzazione: in presenza di elementi del I e II gruppo ad

alta concentrazione matrix matching

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Esempi di interferenze spettrali

Isotope Interferant Isotope Interferant 6,7

Li

Background 52

Cr ArC, ClOH 23

Na

Background 55

Mn ClO, KO 28

Si N2, CO 56

Fe ArO, CaO 31

P NOH 59

Co ArNa, CaOH 32

S O2 63

Cu ArNa 39,40

K

ArH, Ar 66

Zn ArMg 40

Ca Ar 75

As ArCl, CaO2 48

Ti SO 80

Se Ar2, FeH2O 51

V ClO, ArC 81

Br Ar2H

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Interferenze dal background

• Ioni molecolari del fondo

formati dal plasma (Ar),

dall’acqua e dall’aria

• HNO3 è l’acido più adatto

da usare perché non

introduce altre specie

molecolari diverse da

quelle già presenti nel

background

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Interferenze dalla matrice

• Ioni molecolari formati da

componenti della matrice

• In caso di interferenze come

queste, può essere utile

effettuare un pretrattamento del

campione per rimuovere le

specie interferenti

• (es. scambio ionico)

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CCT – schema

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Celle a reazione chimica

• Si basano su una reazione chimica anziché sulla semplice

collisione di particelle

• Esempio: determinazione di V

• 35Cl16O isobaro con 51V

• tutti i campioni contenenti Cl danno risultati non corretti, a causa di

questa interferenza

• Gas reattivi come NH3 provocano la rimozione completa di 35Cl16O

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DL a confronto : ICP-OES & ICP - MS

Element WL nm Axial Radial

Al 396,152 0,90 10,0

As 188,980 3,00 17,0

As 193,696 4,00 25,0

B 249,773 0,40 1,0

Ba 233,527 0,10 0,8

Ba 317,933 0,03 0,3

Ca 396,847 0,01 0,3

Cd 214,439 0,20 1,0

Co 238,892 0,50 2,0

Cr 267,716 0,50 2,5

Cu 327,395 1,00 1,5

Fe 238,204 0,30 1,3

Hg 184,950 2,00 7,0

K 766,491 0,30 4,0

Li 670,783 0,06 1,0

Mg 279,600 0,05 0,1

Mg 279,800 1,50 10,0

Mn 257,600 0,10 0,2

Mo 202,000 1,00 3,0

Na 589,600 0,20 1,5

Ni 231,600 1,00 5,0

P 177,400 4,00 25,0

Pb 220,400 2,00 15,0

Rb 780,000 1,00 5,0

S 182,000 5,00 35,0

Sb 206,800 3,00 25,0

Se 196,000 4,00 25,0

Sn 189,900 2,00 15,0

Ti 336,100 0,50 1,0

Tl 190,800 3,00 25,0

V 292,400 0,80 3,0

Zn 231,900 0,20 1,0

ICP-OES DL ppb (3SD di 3 Rep x 3 Sec)

Element m/zAnalyte

m/z

220

m/zElement m/z

Analyte

m/z

220

m/z

Li 7 <1* 0.2 Cd 112,114 1.1 0.8

Be 9 2.2 0.9 In 115 1.4 0.3

B 11 169.0 0.8 Sn 120 4.2 0.9

Na 23 15* 0.2 Sb 121 1.7 1.1

Mg 24 1* 0.3 Te 125 32.0 20.0

Al 27 13.0 0.2 I 127 5.3 1.7

Si (ppb) 28 8.0 0.0 Cs 133 0.5 0.3

P (ppb) 31 6.0 0.0 Ba 138 0.6 0.3

S (ppb) 34 16.0 0.1 La 139 0.3 0.3

K 39 5.0* 0.2 Ce 140 0.3 0.3

Ca 44 10* 7.3 Pr 141 0.2 0.2

Sc 45 38.0 0.2 Nd 146 1.2 1.2

Ti 49 11.0 4.4 Sm 147 1.5 1.4

V 51 1.2 0.3 Eu 153 0.4 0.4

Cr 52 27.0 0.3 Gd 157 1.0 1.3

Mn 55 7.9 0.2 Tb 159 0.2 0.2

Fe 57 3* 8.0 Dy 163 0.9 0.9

Co 59 2.5 0.2 Ho 165 0.3 0.2

Ni 60 23.0 1.1 Er 166 0.7 0.7

Cu 63 3.0 0.5 Tm 169 0.2 0.2

Zn 66 18.0 2.7 Yb 172 0.8 1.0

Ga 71 21.0 6.0 Lu 175 0.2 0.2

Ge 72 7.0 1.9 Hf 178 1.1 0.8

As 75 10.0 3.2 Ta 181 0.7 0.5

Se 77 276.0 51.0 W 182 3.9 1.6

Br 79 46.0 16.5 Re 185 0.6 0.7

Rb 85 2.0 0.3 Os 189 2.0 1.8

Sr 88 0.8 0.3 Ir 193 0.4 0.4

Y 89 0.8 0.3 Pt 195 1.3 1.0

Zr 90 1.5 0.6 Au 197 1.3 0.9

Nb 93 2.4 0.8 Hg 202 34 0.9

Mo 98 3.0 1.6 Tl 205 2.0 0.4

Ru 101 3.7 1.4 Pb 208 7.3 0.6

Rh 103 0.6 0.3 Bi 209 0.5 0.5

Pd 105 1.6 1.2 Th 232 0.6 0.3

Ag 107 1.2 0.7 U 238 0.5 0.5

ICP - MS Detection Limits ppt

Cd : 1,0 ppb

Cd : 0,2 ppb

Cd : 1,1 ppt