CHARACTERIZATION OF POLYCRYSTALLINE MATERIALS AND 

TEXTURE ANALYSIS SERVICE REQUEST FORM 

Dr. Cristóbal Verdugo Escamilla Factoría de Cristalización 

Avenida de Las Palmeras, nº4 18100 Armilla ‐ Granada (Spain) 

Phone: +34 958230000; Ext. 190009 Fax: +34 958552620 

lafactoria@lec.csic.es http://lafactoria.lec.csic.es

 

Equipment:  Two  Panalytical  diffractometers:  X’Pert  Pro  MPD  (Multi  Purpose  Diffractometer)  with  programmable  slits  in transmission  and  reflection modes. A Materials Research Diffractometer  (MRD)  especially  adapted  for  thin  films,  single  crystal multilayer diffraction and textural analysis. 

 

USER INFORMATION 

NAME:                                                                                                                        TITLE:                                                  

E‐MAIL:                                                                                                                      TEL.:  

DATE (DD/MM/YYYY):                                                                                           FAX:                                                      

DEPARTMENT:                                                                                                         INTERNAL ID NUMBER: 

COMPANY/INSTITUTION:                                                                                      (To be filled by La Factoría de Cristalización) 

SAMPLE  INFORMATION 

SAMPLE ID*:                                                                                                         NUMBER OF SAMPLES:    

*(if you send more than one sample, please fill in the table in the next page)                                                                          

CHEMICAL COMPOSITION (if known): 

TWO THETA RANGE:     (FROM:                              TO:                                  ) 

STEP SIZE (°): 

SCAN RATE (°/min): 

REFLECTIONS TO STUDY (only for the case of texture analysis) :

SAFETY AND HANDLING RISKS (toxic, corrosive, irritating,…):    

DOES IT NEED PROTECTION? :                   MSDS AVAILABLE? :                 RETRIEVE THE SAMPLE? :                      

CHARACTERIZATION OF POLYCRYSTALLINE MATERIALS 

NAME  DESCRIPTION  CHOOSE

SAMPLE PREPARATION 

For Reflection measurements   

For Transmission measurements   

For Grazing angle measurements   

DIFFRACTOGRAM DATA COLLECTION  Data collection only   

GRAZING ANGLE MEASUREMENT  Small angle measurement only   

QUALITATIVE ANALYSIS  Interpretation of data and phase identification   

QUANTITATIVE ANALYSIS  Composition analysis by the Rietveld method   

SIZE‐STRAIN ANALYSIS  Domain crystal size and strain   

     

TEXTURE CHARACTERIZATION 

NAME  DESCRIPTION  CHOOSE

TEXTURE MEASUREMENT  Sample preparation and data collection   

RESIDUAL STRESS MEASUREMENT  Sample preparation and data collection   

  

 

LIST OF SAMPLES 

Nº  SAMPLE ID  INTERNAL SAMPLE ID 

1     

2     

3     

4     

5     

6     

7     

8     

9     

10     

11     

12     

13     

14     

15     

16     

17     

18     

19     

20     

21     

22     

23     

24     

25